PENGARUH FRAKSI-X Selenium PADA STRUKTUR DAN PARAMETER KISI Pb(S,Se) MASIF PREPARASI TEKNIK BRIDGMAN
Ariswan Ariswan, Universitas Negeri Yogyakarta, Indonesia
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh fraksi X atom selenium (Se) pada struktur kristal dan parameter kisi bahan semikonduktor Pb(S,Se) dalam bentuk masif, yang dipreparasi menggunakan teknik Bridgman. Kristal ditumbuhkan dengan memanaskan bahan Pb(S,Se) dengan alur suhu tertentu yaitu dipanaskan sampai pada suhu 300C selama 2 jam dan selanjutnya pada suhu 600C, pemanasan dilakukan juga selama 4 jam. Hasil XRD menunjukkan bahwa variasi fraksi x atom selen tidak berpengaruh pada struktur kristal yaitu kubik. Namun x fraksi atom selenium tersebut berpengaruh pada parameter kisi kristal Pb(. Hasil perhitungan analitik parameter kisi yang dihasilkan yaitu, PbSe sebesar 6,1399, sebesar 6,0748, sebesar 6,0741 , sebesar 6,0224 , sebesar 5,9926 , sebesar 5,9909 , dan sebesar 5,9685 .
Keywords
Full Text:
PDFReferences
Cullity, B. D. (1978). Elemen of X-Ray Diffraction. Massachusets: Addson Wesley Publishing Company.
Rio, S. R., & Iida, M. (1982). Fisika dan teknologi Semikonduktor. Jakarta: P.T. Dainippon Gitakarya Printing.
Suryanarayana, C., & Norton, M. G. (1998). X - Ray Diffraction A Practical Approach. New York: Plenium Publishing Corporation .
DOI: https://doi.org/10.21831/fisika%20-%20s1.v9i2.19901
Refbacks
- There are currently no refbacks.
Copyright (c) 2023 Jurnal Ilmu Fisika dan Terapannya
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.