PENGARUH FRAKSI-X Selenium PADA STRUKTUR DAN PARAMETER KISI Pb(S,Se) MASIF PREPARASI TEKNIK BRIDGMAN

Sardila Ayu Ihwani, Universitas Negeri Yogyakarta, Indonesia
Ariswan Ariswan, Universitas Negeri Yogyakarta, Indonesia

Abstract


Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui pengaruh fraksi X atom selenium (Se) pada struktur kristal dan parameter kisi bahan semikonduktor Pb(S,Se) dalam bentuk masif, yang dipreparasi menggunakan teknik Bridgman. Kristal ditumbuhkan dengan memanaskan bahan Pb(S,Se) dengan alur suhu tertentu yaitu dipanaskan sampai pada suhu 300C selama 2 jam dan selanjutnya pada suhu  600C, pemanasan dilakukan juga selama 4 jam. Hasil XRD menunjukkan bahwa variasi fraksi x atom selen  tidak berpengaruh pada struktur kristal yaitu kubik. Namun x fraksi atom selenium tersebut berpengaruh pada  parameter kisi kristal       Pb(. Hasil perhitungan analitik parameter kisi yang dihasilkan yaitu, PbSe sebesar  6,1399,  sebesar  6,0748,  sebesar  6,0741 ,  sebesar 6,0224 , sebesar 5,9926 , sebesar 5,9909 , dan sebesar 5,9685 .

 


Keywords


Pb(S,Se); Struktur Kristal; Parameter kisi; Teknik Bridgman

Full Text:

PDF

References


Cullity, B. D. (1978). Elemen of X-Ray Diffraction. Massachusets: Addson Wesley Publishing Company.

Rio, S. R., & Iida, M. (1982). Fisika dan teknologi Semikonduktor. Jakarta: P.T. Dainippon Gitakarya Printing.

Suryanarayana, C., & Norton, M. G. (1998). X - Ray Diffraction A Practical Approach. New York: Plenium Publishing Corporation .




DOI: https://doi.org/10.21831/fisika%20-%20s1.v9i2.19901

Refbacks

  • There are currently no refbacks.


Copyright (c) 2023 Jurnal Ilmu Fisika dan Terapannya

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.