PERBANDINGAN VALIDASI METODE ANALISIS ION TEMBAGA(II) TANPA PENGOMPLEKS DAN DENGAN PENGOMPLEKS Na- DIETILDITIOKARBAMAT SECARA SPEKTROFOTOMETRI UV-VIS
Sunarto Sunarto, , Indonesia
Abstract
ABSTRAK
Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui validasi pengujian ion tembaga(II) tanpa
pengompleks dan dengan pengompleks Na-dietilditiokarbamat secara spektrofotometri UV-Vis
dengan parameter linearitas, batas deteksi, batas kuantifikasi, presisi, dan akurasi. Selain itu untuk
menentukan metode yang mempunyai validitas yang lebih baik terhadap penentuan kadar ion
tembaga(II). Metode analisis ion tembaga(II) secara spektrofotometri UV-Vis yaitu menggunakan
kristal CuSO4.5H2O, penambahan NH4OH 5% sebagai pemberi suasana basa, dan Nadietilditiokarbamat
1% sebagai reagen pengompleks. Hasil penelitian menunjukan persamaan garis
regresi metode ion Cu(II) tanpa pengompleks Y= 0,020107x + 0,08664 dan metode Cu(DDTK)2 Y=
0,12386x + 0,00879 dengan nilai r masing-masing sebesar 0,99568 dan 0,99431; batas deteksi
0,1346 ppm dan 0,05203 ppm; batas kuantifikasi 0,44867 ppm dan 0,17345 ppm, presisi 2,5% dan
3,29% , dan akurasi 94,56% dan 98,9%. Dari hasil tersebut menunjukan bahwa metode analisis ion
Cu(II) dengan pengompleks Na-DDTK lebih baik dibanding tanpa pengompleks secara
spektrofotometri UV-Vis.
Kata kunci: spektrofotometri UV-Vis, tembaga, validasi metode
Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui validasi pengujian ion tembaga(II) tanpa
pengompleks dan dengan pengompleks Na-dietilditiokarbamat secara spektrofotometri UV-Vis
dengan parameter linearitas, batas deteksi, batas kuantifikasi, presisi, dan akurasi. Selain itu untuk
menentukan metode yang mempunyai validitas yang lebih baik terhadap penentuan kadar ion
tembaga(II). Metode analisis ion tembaga(II) secara spektrofotometri UV-Vis yaitu menggunakan
kristal CuSO4.5H2O, penambahan NH4OH 5% sebagai pemberi suasana basa, dan Nadietilditiokarbamat
1% sebagai reagen pengompleks. Hasil penelitian menunjukan persamaan garis
regresi metode ion Cu(II) tanpa pengompleks Y= 0,020107x + 0,08664 dan metode Cu(DDTK)2 Y=
0,12386x + 0,00879 dengan nilai r masing-masing sebesar 0,99568 dan 0,99431; batas deteksi
0,1346 ppm dan 0,05203 ppm; batas kuantifikasi 0,44867 ppm dan 0,17345 ppm, presisi 2,5% dan
3,29% , dan akurasi 94,56% dan 98,9%. Dari hasil tersebut menunjukan bahwa metode analisis ion
Cu(II) dengan pengompleks Na-DDTK lebih baik dibanding tanpa pengompleks secara
spektrofotometri UV-Vis.
Kata kunci: spektrofotometri UV-Vis, tembaga, validasi metode
Full Text:
PDFRefbacks
- There are currently no refbacks.